先进的EMI测量方法-
用于预扫描测量的加速时域扫描。
在预扫描时，您是否遇到了挑战？
例如在预扫描中
使用软件难以确定
是否捕获了相关噪声？
即使测量了相同的EUT，
也会获得不同的预扫描结果。
了解噪声出现的操作模式
是具有挑战性的。
PXE上的加速时域扫描
可以解决这些挑战。
PXE可以一次
在最大
350MHz范围
测量和观察噪声。
这是
传统时域扫描范围的10倍。
通过无间隙地测量宽带噪声，
您可以准确地捕获需要在正式测量中
测量的噪声。
让我们进行EUT的预扫描并测量其发射电平，
以了解PXE的优势。
我们比较频谱分析仪扫频测量
和PXE的A-TDS测量的屏幕。
在传统的扫频测量中，
开启最大保持时，
您可以看到峰值噪声电平持续上升。
这是您真正需要仔细观察的吗？
让我们放大查看一下。
我们使用峰值检波器和最大保持模式
来仔细观察
我们在扫频测量期间
看到高噪声电平的位置。
使用QP检波器开启的A-TDS功能，
我们可以轻松地发现电平
并不像我们最初想象的那样严重。
这样我们就可以选择正确的噪声。
让我们看看另一个频率范围的噪声。
在使用A-TDS进行测量时，
您可以看到噪声
随着打印机的行为而变化。
这种行为
在传统的扫频测量中是观察不到的。
使用A-TDS功能，您可以快速
了解噪声产生时
使用的操作模式。
这次让我们关注一个特定的噪声。
当我们观察这个噪声时，
我们可以很容易地在中心找到扩频。
它清晰地显示了电平
在转台旋转时如何变化，
因为噪声具有方向特性。
使用传统的扫频测量方法，
这种行为是观察不到的。
使用A-TDS功能，可以正确选择
和评估需要在正式测量中
测量的噪声。
与传统的扫频测量相比，
它有助于大大降低
测量值的偏差。
图表显示了
扫频和A-TDS测量中
偏差和测量结果。
横轴表示频率，
纵轴表示
标准偏差。
橙色曲线显示使用峰值检波器的
扫频测量结果，
蓝色和绿色曲线
显示使用峰值和QP检波器的
A-TDS测量结果。
图表显示，扫频测量结果
在250MHz左右
具有较大的偏差。
与此示例中的A-TDS
功能相比，
最小值和最大值
之间的偏差
高达13dB。
这表明
扫频测量方法无法
很好地捕捉到变化的噪声。
使用PXE，您可以精确选择
需要在正式测量中测量的噪声。
此外，您可以轻松了解
噪声产生时使用的操作模式。
因此，您可以获得
更可靠的、偏差更小的
测量结果。
A-TDS功能
解决了您在预扫描期间
可能遇到的许多挑战，
并有助于提高EMC测试的效率。
这就是PXE的A-TDS功能。
感谢您的观看。