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E9988GL Keysight i3070 高密度在线电路测试（ICT）系统；系列 7i - 是德科技Keysight : 已停产/废型
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K8228B Silicon Nails 功能开发和运行时，GTE 10.00p
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用户还可以使用 Silicon Nails 测试开发工具自定义对不合规的边界扫描器件执行的矢量。 测试开发工具将会生成边界扫描测试，并在相关互连引脚上输出或输入，从而实现测试一致性。
K8223B DGN 高级报告功能，GTE 10.00p
起价
“基本诊断”版本允许所有用户使用。用户可使用这个主要故障诊断工具查看硬件配置，验证和隔离硬件故障。 某些诊断测试要求系统上安装有引脚验证夹具。
K8217B 覆盖扩展功能，GTE 10.00p
起价
覆盖扩展技术（CET）通过使用 VTEP 或 nanoVTEP 和 CET 信号调理卡硬件，将边界扫描有限接入解决方案扩展到非边界扫描器件上。
K8215B 先进吞吐量乘法器功能，GTE 10.00p
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先进吞吐量乘法器功能让您能够在 4 模块测试仪上同时测试多达两块 1000 至 2000 节点（1296 到 2592 个节点之间）电路板，将测试时间缩短一半。
K8212B 1149.1 边界扫描功能，GTE 10.00p
起价
边界扫描是一项在印刷电路板上进行互连测试的方法。 是德科技 Interconnect Plus 边界扫描功能可支持全部所需的工具，以便在被测电路板上规划并执行这项基础测试。
K8213B 1149.6边界扫描功能，GTE 10.00p
起价
是德科技 1149.6 Interconnect Plus 边界扫描功能可支持全部所需的工具，以便在被测电路板上规划并执行这项测试。 与 1149.1 标准相比，1149.6 标准所定义的边界扫描测试主要面向设计有交流耦合信号或差分网络，以实现高速运行的设备。
K8218A Drive-Thru Feature, GTE 10.00p
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The DriveThru feature enables the test development software to test integrated circuits or connectors when there are no test points assigned between the resistor and the device.
K8212A 1149.1 Boundary Scan Feature, GTE 10.00p
起价
Boundary scan is a method for testing interconnections on printed circuit boards. Keysight’s Interconnect Plus Boundary Scan feature enables all the tools required to develop and execute this foundational test method on the board under test.
K8213A 1149.6 Boundary Scan Feature, GTE 10.00p
起价
Keysight’s Interconnect Plus Boundary Scan 1149.6 feature enables all the tools required to develop and execute this test method on the board under test. Compared to the 1149.1 standards, the 1149.6 standards define test methods for the boundary scan devices that are designed with AC coupled signals or differential nets needed for high-speed operations of the device.
K8214A Silicon Nails Feature, GTE 10.00p
起价
Keysight’s Silicon Nails feature enables all the tools required to develop and execute tests on non-compliant boundary scan devices that are connected to boundary scan compliant devices on the printed circuit board.
K8214B Silicon Nails Feature, GTE 10.00p
起价
Keysight’s Silicon Nails feature enables all the tools required to develop and execute tests on non-compliant boundary scan devices that are connected to boundary scan compliant devices on the printed circuit board.
K8215A Advanced Throughput Multiplier Feature, GTE 10.00p
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The Advanced Throughput Multiplier feature allows you to test up to two 1000 to 2000 node (between 1296 and 2592 nodes) boards simultaneously on a 4 module tester, thus dividing the test time by half.
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