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参数测试解决方案 - 是德科技Keysight : 已停产/废型
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4080 系列参数测试系统
起价
最大 SPGU 输出通道数
10 channels
最大测量引脚数
48
最小电流测量分辨率
1 fA
最小电压测量分辨率
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
No
P9002A 并行参数测试系统
起价
最大 SPGU 输出通道数
4 channels
最大测量引脚数
100
最小电流测量分辨率
0.1 fA
最小电压测量分辨率
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
Yes
P9001A 大规模并行参数测试系统
起价
最大 SPGU 输出通道数
N/A
最大测量引脚数
100
最小电流测量分辨率
0.1 fA
最小电压测量分辨率
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
Yes
NX5730A 高吞吐量 1 ns 脉冲 IV 存储器测试解决方案
起价
最大 SPGU 输出通道数
N/A
最大测量引脚数
2
最小电流测量分辨率
1 pA
最小电压测量分辨率
N/A
Parallel Parametric Test Capability
No
4881HV High Voltage Wafer Test System
起价
最大 SPGU 输出通道数
n/a
最大测量引脚数
29
最小电流测量分辨率
10 fA
最小电压测量分辨率
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
No
PX9002A Parallel Parametric Test System
起价
最大 SPGU 输出通道数
n/a
最大测量引脚数
50
最小电流测量分辨率
0.1 fA
最小电压测量分辨率
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
n/a
NX5402A Silicon Photonics Wafer Test System
起价
最大 SPGU 输出通道数
N/A
最大测量引脚数
12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
最小电流测量分辨率
N/A
最小电压测量分辨率
N/A
Parallel Parametric Test Capability
No
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