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特点
- 只需单次扫描便可获得最高准确度。 无需进行多次扫描并计算平均值
- 对元器件的光路径长度没有限制
- 1240 nm 至 1650 nm 工作波长范围
- 1 MHz 最大采样率
- 0 ps 至 1000 ps DGD 量程
- 0 ps 至 300 ps PMD 量程
- 1.5° SOP 测量不确定度
- ±2% DOP 测量不确定度
N7788C 光器件分析仪在一台仪器中同时提供了偏振控制和分析功能，因而能够在实验室中灵活使用。 尤其是，N7788C 能与可调谐激光源配合使用，测量光器件如何改变信号的 SOP。 这项测量以广义标准琼斯矩阵本征分析法（JME）为基础，采用独特的单次扫描偏振相关法来确定参数偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）和偏振相关损耗（PDL）。
N7788C 与可调谐激光源和新的 N7700 软件引擎结合使用，能够对这些偏振相关损耗和色散进行光谱测量。 作为光通信应用软件套件的一个组件，LS 引擎现在可支持这些与波长有关的 DGD 和 PMD 测量。 这个模式可通过 N7700103C PMD 获得许可。
此项测量提供的参数包括：
- DGD/PMD
- PDL
- 功率/损耗
- TE/TM 损耗
- 琼斯矩阵
- 米勒矩阵
- 2 阶 PMD（去偏振 + PCD）
N7788C 的内置用户界面支持通用偏振计和偏振控制功能。
仪器外形紧凑，仅有一个机架单元高，并且配有 LAN 和 USB 接口。
主要技术指标
应用
Component characterization (fiber; passive; active; dynamic)
In-channel measurements across amplifiers
DOP Meas. Uncertainty
± 2.%; ± 1.5% typical
Functionality
Polarimeter
Input power range
-50 dBm to +7 dBm
Insertion Loss Choice
<6.0 dB at 1270 - 1375 nm
<5.0 dB at 1375 - 1620 nm
PDL
< 0.15 dB typical at 1550 nm
应用
DOP Meas. Uncertainty
Functionality
Input power range
Insertion Loss Choice
PDL
Component characterization (fiber; passive; active; dynamic)
In-channel measurements across amplifiers
± 2.%; ± 1.5% typical
Polarimeter
-50 dBm to +7 dBm
<6.0 dB at 1270 - 1375 nm
<5.0 dB at 1375 - 1620 nm
< 0.15 dB typical at 1550 nm
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