如何表征低功耗集成电路

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使用源表模块表征低功耗集成电路

在测量低功耗集成电路的电流/电压特性时，所使用的测试系统通常会包含多种基础型仪器。 系统中包括多台电源，用于向电压要求各不相同的测试端口提供适合的电压，还包括数字万用表（DMM），用于测量电压和电流。 有些测试例需要用脉冲发生器来仿真信号，还需要使用数字化仪在时域中捕获信号。

您可以使用源表模块(source measure unit, SMU) 充当电源，再使用电流表、电压表和数字化仪执行多通道同步电流/电压（IV）测量。 在测量休眠电流之前，需要先设置仪器自校准和准确的量程，尤其是对于精度水平在毫安（mA）以下的 IC。 为了执行准确的动态测量，SMU 必须具备足够快的采样率，才能捕获在从休眠状态转变到工作状态期间出现的信号。

IC 测试解决方案

低功耗 IC 表征解决方案

表征低功耗 IC，可能需要用到一系列基础型仪器，包括多台电源、数字万用表、脉冲发生器和数字化仪。 是德科技低功耗 IC 表征解决方案包含 PZ2100 系列 SMU（可在 1U 机架空间内提供 20 个 SMU 通道和一体化脉冲发生器/数字化仪），以及 PW9251A PathWave IV 曲线测量软件。 借助该解决方案，您能够在电流和电压都极低的各种工作条件下进行 IV 表征，由此验证电路设计，发现故障或问题，并优化电路性能。
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