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特点

  • 最大节点数：2592
  • 最大通道数：576
  • 占用面积：1.49 米 x 0.94 米 / 4.89 英尺 x 3.08 英尺
  • 最大模块数：2

您的生产线需要高吞吐量。 要想实现高吞吐量，您必须高效地执行测试，保持测试系统的稳定度以及无缝实施设备集成。 Keysight i3070 系列 6 产品组合恰好可以满足您的需求。 系列 6 ICT 系统以成熟的技术为基础精心设计，与以前的产品相比测试效率更高。 系列 6 拥有经过时间验证的软件、硬件和编程功能，能够完全向后兼容以前的系统，并可执行高度可重复的测量。

  • 更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上，在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上。
  • 100% 向后兼容性保证尽量缩短安装所需要的停机时间，并实现完整的代码兼容性。
  • IPC-CFX 和 Hermes 等经过认证的 M2M 功能可提高操作效率，深化测试数据洞察，缩短响应时间以及减少运营支出。
  • Keysight On-site Now! 眼镜提供直观的技术支持。 您可以快速获得专家帮助，安全可靠，解放自己的双手。
  • 现代化的软件许可方案让您可以清晰了解许可证成本，集中管理许可证，还可根据生产需求进行扩展。

主要技术指标

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Fixture Actuation
Vacuum
外观因素
Complete Test System
最大节点数
2592
Max Parallel Testing
2
System Type
Offline System
System Width
1490 mm
Fixture Actuation
外观因素
最大节点数
Max Parallel Testing
System Type
System Width
Vacuum
Complete Test System
2592
2
Offline System
1490 mm
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Fixture Actuation:
Vacuum
外观因素 :
Complete Test System
最大节点数:
2592
Max Parallel Testing:
2
System Type:
Offline System
System Width:
1490 mm
类型:
2-Module ICT System
E9902G 2-Module ICT System, i317x Series 6

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特色资源

Data Sheets 2023.09.13

i3070 Series 6 In-Circuit Test Systems

i3070 Series 6 In-Circuit Test Systems

This datasheet provides a comprehensive overview of the Keysight i3070 Series 6 In-Circuit Test (ICT) system, a cutting-edge solution meticulously designed for Printed Circuit Board Assembly (PCBA) manufacturing. Engineered with industry-leading in-circuit testing technologies, the i3070 stands out as an Industry 4.0-ready system, adept at addressing the diverse in-circuit testing requirements across various PCBA sizes and applications such as Internet of Things, 5G Communication, Automotive, and Energy.

2023.09.13

Data Sheets 2017.12.01

Medalist i3070 Series 5 In-Circuit Test System

Medalist i3070 Series 5 In-Circuit Test System

The Keysight Medalist i3070 Series 5 In-Circuit Test (ICT) provides more flexible in incorporating external circuits as well as allowing better control of external circuits.

2017.12.01

Application Notes 2014.07.31

High Node Count Fixturing Solutions for Test Fixtures

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Learn the problems with short-wire in-circuit test (ICT) fixtures and how to implement Keysight’s high node count fixturing solution.

2014.07.31

Application Notes 2019.07.03

TestJet and VTEP Hardware Description and Verification

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This paper describes the TestJet and VTEP hardware components, the required connections for assembly, instructions for the setup and use of the Fixture Verifier.

2019.07.03

应用指南 2014.08.01

在 Keysight Medalist i3070 图形用户界面上用两种语言显示菜单 应用指南

在 Keysight Medalist i3070 图形用户界面上用两种语言显示菜单 应用指南

With its Medalist i3070 In-Circuit Test (ICT) software version 07.00 and above, Keysight has a menu-based Graphical User Interface (GUI) allowing users to point and click on commands in a menu to control the ICT system during operation.

2014.08.01

应用指南 2014.08.01

利用 Keysight Medalist i3070 在线测试 AutoDebug 工具 , 缩短调试时间 应用指南

利用 Keysight Medalist i3070 在线测试 AutoDebug 工具 , 缩短调试时间 应用指南

本应用指南概括介绍了 Keysight Medalist i3070 ICT软件 07.00 版及以上版本中引入的自动调试工具，从而缩短调试ICT软件程序所需的时间。

2014.08.01

Application Notes 2014.07.31

First Pass Yield (FPY) and Alarm Triggers on the ICT Test System

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Learn how to improve your circuit board testing processes by customizing the First Pass Yield (FPY) display and creating alarm triggers on the ICT test system.

2014.07.31

Application Notes 2017.06.16

Increasing Throughput on the In-Circuit Test (ICT) System

Increasing Throughput on the In-Circuit Test (ICT) System

Explore tips and tricks to reduce test time and increase throughput on the Keysight Medalist i3070 In-Circuit Test (ICT) system.

2017.06.16

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