特点

4080 系列:参数测试系统总体解决方案

Keysight 4080 系列提供了丰富的测量功能,可以充分满足基本参数测试的要求。 您可以轻松执行 Vth、Ids、Idoff、Cox 等直流和电容测量。 4080 系列可支持三种类型的 SMU(源表模块)进行直流测量。 数字电压表(DVM)、频谱分析仪和 LCD 表等多种其他仪表选件可进一步增强测量功能。

  • 参数测试系统兼容 SPECS 和 4070 系列,为业界树立测量新标杆
  • 异步和同步并行测试功能可将吞吐量提升最多 50%
  • 更灵活的配置:标准小电流和超小电流(12 至 48 引脚)
  • 符合 SEMI 标准,有助于实现测试自动化
  • 采用 Linux 操作系统,成本更低
  • 完全整合的参数测试解决方案,可获得全方位的服务和支持

旨在应对主流半导体技术遇到的测量挑战

4080 系列包含两个型号,可根据您的测试要求进行配置。 4082A 参数测试系统可以对成熟、先进的半导体器件执行基本参数测试,并提供了同步和异步并行测试功能。 4082F 闪存单元参数测试系统支持使用高压半导体脉冲发生器(HV-SPGU)模块和 81150A 脉冲发生器来表征闪存单元技术。

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主要技术指标

最大 SPGU 输出通道数
10 channels
最大测量引脚数
47
最小电流测量分辨率
1 fA
最小电压测量分辨率
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
最大 SPGU 输出通道数
最大测量引脚数
最小电流测量分辨率
最小电压测量分辨率
Parallel Parametric Test Capability
10 channels
47
1 fA
2 µV
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其他特性:
SPGU output
外观因素 :
n/a
最大测量引脚数:
47
最大 SPGU 输出通道数:
10 channels
最小电流测量分辨率:
1 fA
最小电压测量分辨率:
2 µV
Parallel Parametric Test Capability:
类型:
Parametric Test Solution
半导体参数测试解决方案

4082A—符合行业标准的参数测试系统

如果您使用的 4070 系列测试仪不附带任何服务和支持协议,可通过升级至 4080 系列获得专业服务和支持。

这是 4070 系列测试仪最简单、最方便的升级方式,可以保证 4070/SPECS 程序兼容性和数据相关性。

  • 提供中功率(MPSMU)、大功率(HPSMU)和高分辨率(HRSMU)三种类型的源表模块任您选择。
  • 同步和异步并行测试可以通过 VMT(虚拟多测试头)软件提高测试吞吐量
  • 1 fA 和 0.1 uV 测量分辨率
  • 可选 HS-CMU(高速电容测量单元)
  • 可选环形振荡器测量

4082F—闪存单元参数测试系统

全面的参数测试功能,结合 SPGU(半导体脉冲发生单元)主机和高压 SPGU 模块,可以评测 NAND 闪存单元的写入/擦除特性。

  • 在多达 10 个通道上内置脉冲 SPGU,可进行快速、精准的测量
  • 可以选择成本更低的脉冲发生器――具有多达两个通道的 Keysight 81150A
4082F 闪存单元参数测试系统

关于参数测试系统的特色资源

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