这是您想要的页面.
查看搜索结果:
您希望搜索哪方面的内容？
建议的搜索
No product matches found - System Exception
符合的结果
概述
器件建模软件 IC-CAP 软件是 DC 和 RF 半导体器件建模的行业标准。 集成电路表征和分析程序 (IC-CAP) 提取用于高速/数字、模拟和功率射频应用的精确紧凑模型。 当今最先进的半导体代工厂和 IDM 依靠 IC-CAP 对硅 CMOS、双极、化合物砷化镓 (GaAs)、氮化镓 (GaN) 和许多其他 IC 器件技术进行建模。 IC-CAP 是最先进的可定制建模软件，包括测量、模拟、优化和统计分析工具。
- 开放式建模软件架构可实现最大准确性，并提供最大的灵活性来创建和自动化测量、提取和验证程序
- 适用于 BSIM3/BSIM4、PSP 和 HiSIM 等行业标准 CMOS 模型的交钥匙提取解决方案，最大限度地减少学习曲线并最大限度地提高模型精度
- 大多数与商业模拟器的直接链接确保提取的模型与电路设计人员使用的模拟器之间的一致性
Find the product that's right for you
您已经拥有其中某个产品？
访问技术支持
上一页
All the tools and examples needed to characterize and model semiconductor devices. Includes the software environment, all measurement drivers, optimization, Python/PEL programming and all simulation links.
WaferPro for automated wafer-level measurement. All measurement drivers are included. Python/PEL programming enables custom measurement algorithms and drivers.
Measure and accurately model any GaN RF device with the physics-based industry-standard ASM-HEMT and the MVSG models, or use the established Angelov-GaN model.
下一页
See also the W6325B PathWave MBP/IC-CAP Device Model Extraction and W6347B PathWave MQA/IC-CAP Modeling bundles.
Want more information on Device Modeling IC-CAP Products? View Configuration Guide
Extend the capabilities of PathWave Device Modeling
Protect your innovation investment
Featured resources for IC-CAP 器件建模软件 ―― 测量控制和参数提取
Want help or have questions?