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与精选模块捆绑使用，节省费用

购买B1500A非易失性内存（NVM）测试方案，节省15%费用，用于高级非易失性存储器测试。

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立即节省半导体器件参数分析仪主机费用

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立即在 Power Device Analyzer 主机上节省

在功率器件分析仪/曲线跟踪器主机上节省 30% 的成本，以加快 WBG 功率器件的研究和研究。

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精密型IV（电流－电压）分析仪系列

精密型IV（电流－电压）分析仪系列能够确保准确和高效的电流－电压测量，为您分析各种应用中的 IV 特征提供清晰的洞察力。功能强大的表征软件以及综合电源和测量电源（SMU）使您可以更快、更简单地实施精确的 IV 表征。EasyEXPERT group+ 软件支持所有表征任务，例如测量设置和执行、数据分析、数据管理和保护等。它支持直观的图形用户界面和鼠标/键盘操作。该系列还提供了极其广泛的 IV 分析仪，从经济型分析仪到能够支持尖端应用的最先进分析仪应有尽有，您可以选用最适合自身测量需求的分析仪。

功率器件参数分析仪系列

是德科技功率器件参数分析仪是用于功率器件测试的最佳解决方案。功率器件参数分析仪可以配备各种高性能选件，这些选件覆盖从 3 kV / 20A 到 10 kV /1500A 的广阔电流和电压范围并具有其他特性，从而使分析仪能够测试所有类型的功率器件。该系列提供了众多型号的功率器件分析仪，以满足功率器件制造商和功率电路/产品制造商的特殊需求。

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IV曲线测试仪-电流电压测试仪

IV曲线测试仪-电流电压测试仪

是德科技精密型IV曲线测试仪和电流电压测试仪系列将功能强大的表征软件与综合SMU完美结合，能够确保准确和高效的电流电压测量，为您提供清晰的IV特征洞察。

低泄漏开关矩阵系列（B2200A/B2201A/E5250A）

低泄漏开关矩阵系列（B2200A/B2201A/E5250A）

低泄漏开关主机解决方案位于半导体参数分析仪与晶圆之间，可自动执行表征测试，降低测试成本（B2200A、B2201A 和 E5250A）。

功率器件分析仪-曲线追踪仪

功率器件分析仪-曲线追踪仪

是德科技功率器件分析仪和曲线追踪仪提供了宽广的电压和电流量程，能够测试 IGBT、超结 MOSFET 等各种功率器件。点击进入是德科技官网查看产品详情！

参数分析仪测试产品相关使用案例

如何评测 LED 的 IV 特性

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在表征高能效 LED 的电流和电压时，您需要能够产生并测量电流和电压。 了解如何仅使用一个源表模块，评测两端和三端器件的 IV 特性。
How to Bias Multiple Quantum Qubits

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Supplying DC bias voltage to control multiple qubits in quantum computing development requires maintaining the integrity of the qubits by preventing qubit decoherence. Learn how to characterize qubits with low-noise voltage supply and source meter placements with respect to the cryostat.
How to Evaluate IV Characteristics of Solar Cells

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Characterizing the IV properties of solar cells requires extensive current and voltage measurement capabilities across all four measurement quadrants. Learn how to evaluate solar cells by performing tests, such as short circuit current, open circuit voltage, and maximum power point measurements, with a source / measure unit.
How to Make Resistance Measurements

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Resistance measurements require eliminating error-inducing factors, such as residual test lead resistance, thermal electromotive force, and leakage currents in the measurement path. Learn how to address these measurement issues using a remote sense function (4-wire connection), offset compensation, and a guard function.
如何表征低功耗集成电路

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测量低功耗集成电路（IC）的电流/电压特性，需要使用多种基础型仪器，包括多台电源、数字万用表（DMM）、脉冲发生器和数字化仪。 了解如何使用单个源表模块（SMU）快速、高效地表征低功耗 IC。
如何测试宽带隙半导体

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在表征宽带隙（WGB）半导体时，您需要测试其静态和动态参数，以避免产生损耗。 了解如何对 WBG 器件重复执行 JEDEC 测试，包括导通/关断、开关切换和其他标准化测试。
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参数分析仪产品特色资源

技术概述 2019.08.23

B1500A 半导体器件分析仪

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本技术概览对完整的器件表征解决方案做了阐述，介绍了如何使用 B1500A 半导体器件分析仪来满足各种测量需求，包括从基本的 IV 和 CV 测量到超快速脉冲及瞬态 IV 测量。

2019.08.23

应用指南 2019.10.23

使用 Keysight B1500A MFCMU 和 SCUU 进行 IV 和 CV 测量

使用 Keysight B1500A MFCMU 和 SCUU 进行 IV 和 CV 测量

本应用指南（共 8 页）介绍了如何使用 B1500A MFCMU 和 SCUU 搭建精确的 IV 和 CV 测量系统。

2019.10.23

Application Notes 2019.10.09

DC MOSFET Characterization at the Wafer Level

DC MOSFET Characterization at the Wafer Level

This application note discusses the use of the B1500A semiconductor device analyzer for ultra low current DC MOSFET characterization at the wafer level.

2019.10.09

应用指南 2019.01.07

Accelerate the development of Next Generation Non-Volatile Memory

Accelerate the development of Next Generation Non-Volatile Memory

You can accelerate the development of next generation non voltile memory; CX3300 series for visualizing the fast switching characteristics, B1500A for basic IV,CV,pulsed IV and reliability testing.

2019.01.07

Case Studies 2022.11.09

Improving Reliability of Semiconductor Devices

Improving Reliability of Semiconductor Devices

Automation of random telegraph noise measurement (RTN) is now possible using the B1500A's waveform generator/fast measurement unit (WGFMU) module and WaferPro Express.

2022.11.09

Flyers 2014.07.31

Top 5 Reasons to Use Keysight Precision SMU Products for Solar Cell Evaluation

Top 5 Reasons to Use Keysight Precision SMU Products for Solar Cell Evaluation

This is a flyer targeting business opportunities for solar cells / modules and will be used by FEs and AEs generate business leads. Most of existing instrument products in HSTD are related to this flyer.

2014.07.31

Technical Overviews 2017.12.01

Challenges and Solutions for Material Science/Engineering Testing Applications

Challenges and Solutions for Material Science/Engineering Testing Applications

This technical overview introduces Keysight solutions for material science and engineering test applications.

2017.12.01

功率器件测试成功故事

Case Studies 2022.11.09

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2022.11.09

曲线追踪器/功率器件分析仪常见问题解答

曲线追踪器是一种为电力电子电路设计师设计的综合工具。它通过评估各种工作条件下的所有相关参数，帮助选择合适的功率器件。这包括测量 IV 特性，如击穿电压和导通电阻，以及 FET 参数，如电容、栅极电荷和功率损耗。有关更多信息，请参阅此电路设计用功率器件分析仪/曲线追踪器手册。

功率器件分析仪是一种专门用于表征和评估功率半导体器件的测量仪器。它提供了一个完整的解决方案，用于分析功率器件的关键参数，如晶体管、二极管和其他用于电力电子的组件。

曲线追踪器通过施加一系列电压或电流来测试半导体器件，以绘制电流-电压 (I-V) 特性曲线，从而提供对器件操作行为的洞察。源测量单元 (SMU) 是一个更通用的模块，可以在所有四个象限中作为电压或电流源/汇运行。它集成到复杂的测试系统中，以精确控制和测量电压和电流，执行各种电气测量。虽然曲线追踪器专注于绘制 I-V 曲线，但 SMU 提供了控制和测量电压和电流的灵活性，适用于更广泛的测试和测量应用。有关更多信息，请参阅此功率器件分析仪/曲线追踪器应用说明。

曲线追踪器用于直观显示和分析电子元件（如晶体管、二极管和功率器件）的电流-电压 (I-V) 特性。它对被测设备 (DUT) 施加变化的电压或电流，并绘制相应的电流或电压响应曲线。这使工程师和技术人员能够快速评估性能、识别缺陷并了解元件在不同条件下的行为，使其成为设计和故障排除中的宝贵工具。

I-V 曲线追踪器通过对被测设备 (DUT) 施加变化的电压或电流并测量相应的电流或电压来工作。追踪器通常在指定范围内扫描电压（或电流），同时连续记录结果电流（或电压）。然后将这些数据绘制在图表上，显示电流和电压之间的关系。I-V 曲线提供了对元件电气特性的洞察，如阈值电压、击穿电压以及在不同工作条件下的整体性能。

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